pct高壓加速老化試驗箱LED光源衰退的原因分析
更新時間：2016-06-02
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pct高壓加速老化試驗箱LED光源衰退的原因分析
pct高壓加速老化試驗箱是測驗半導體封裝之濕氣才能，待測商品被置于苛刻之溫度、濕度及壓力下測驗，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口進入封裝體，多見之毛病方法為自動金屬化區域腐蝕形成之斷路，或封裝體引腳間因污染形成短路等。
LED具有低電壓、低能耗、長壽數、高可靠性、易保護等長處,已變成照明職業的干流。盡管LED光源已逐漸替代別的光源變成照明職業的干流，但其壽數及其可靠性仍有待進步，這已變成現階段的研討要點。
LED光源可靠性一般采納pct高壓加速老化試驗箱進行一個溫度加速老化實驗，在LED樣品實驗中跟著老化時刻的增加，會產生光衰退，而產生光闌珊的因素有熒光粉、硅膠以及芯片的衰減。
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