PCT老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。
PCT老化試驗箱設備特點：
1.采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，在很大程度上降低了使用故障率。
2.獨立蒸汽發生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞。
3.門鎖省力結構，解決第一代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
4.試驗前排冷空氣；試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩定性、再現性.
5.超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉1000小時.
6.水位保護，透過試驗室內水位Sensor檢知保護.
7.耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.
8.二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.
9.安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕
10.全觸控式控制器，支持U盤導出歷史記錄
服務熱線：0769-22851840
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更新時間：2023-03-17 
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